WF-10R 微分干涉检测显微镜
无限远光学系统，长工作距离平场复消色差物镜，稳定可靠的架台，精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。
产品规格
| 型号 | WF-10R |
| 光学系统 | 无限远光学系统 |
| 平场复消色差物镜 | 10倍/NA0.28/WD34 |
| 检偏装置 | 0°~105°转动式检偏器 |
| 微分干涉 | 0 ~ 10mm 移动式插板器 |
| 调焦系统 | 同轴调焦机构、微动格值：0.001mm调焦范围：60mm |
| 载物台 | 矩形双层活动平台：260X220mm载物台玻璃尺寸：170X150mm移动范围：±75X±75mm |
| 照明系统 | LED反射式科勒照明, 带起偏器 |
| LDE透射照明 |
规格配置：
1.无限远光学系统：F=200MM
2.光学放大倍数：50X、100X、200X
3.观察方式：明场、偏光、微分干涉
4.长工作距离：20-45MM
5.调焦范围：60MM
6.平台移动范围：X：±75MM、Y：±75MM
7.照明系统：垂直LED照明、透射LED照明
8.成像装置：数字相机或模拟摄像头
观察方式：
1.明场观察：亮度可调同轴LED照明，视野清晰明亮，适合集成电路的检验、精密制造业的装配、零件检测和品质控制。
2.透射观察：采用亮度可调的透射照明，可观察透明样品，尤其适合用户液晶显示屏的品质检测，能清楚的观察发光屏的三色模块。
3.偏光观察：系统内装置偏光机构。可调的检偏镜，便于正交观察。广泛应用于金相试样、岩矿、煤岩、高分子试样等偏光观察。
4.DIC观察--微分干涉观察：在系统插入DIC棱镜装置（渥拉斯顿棱镜），能突出样品各组成之间的相对层次关系，使之呈明显的浮雕状，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能做出正确的判断。DIC显微镜观察法特别适用于液晶显示屏导电板的检测，能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。
WF-10R 微分干涉检测显微镜
 | 超大平台显微检测显微镜无限远光学系统设计，采用同轴照明，2X、5X、10X、20X、50X长工作距离平场消色差物镜，覆盖低倍大视野观察和高倍分辨率分析研究等应用，广泛用于液晶面板和半导体等品质检测。配置高清晰CCD相机采集显微镜图像。体积：L：770，W：1240，H：470平台台面尺寸：650MMX650MM平台移动范围：X：±270MM；Y：±270MM主机调焦范围：Z：40MM |
 | 6英寸高精度手动平台工作台面：260x220MM玻璃面：170X150MM移动范围:X:±75MM、Y：±75MM |
 | 调焦部件粗调、微调独立调节，机构运行平稳，稳定可靠，承载能力大。粗调采用齿轮、齿条驱动方式，采用弹簧来平衡上升的动力。微调采用杠杆原理来完成，不同于普通的齿轮传动微调方式。精度为0.001MM，调焦范围60MM。 |
 | 检测显微镜单筒显微镜，物镜可换。可以装在多种机架上使用，广泛用于制造业的现场检测、记录、分析研究。特点 ：1.无限远光学系统 2.LED同轴照明3.根据被检测的样品需要可选物镜2X、5X、10X、20X |
